(1) 鈷-60加馬射線空氣克馬率校正系統

使用鈷-60加馬射源與空氣游離腔建立空氣克馬率校正系統。其量測原理是依據空氣克馬定義，配合布拉格-戈雷空腔原理 (Bragg-Gray cavity theory)，測定游離腔空腔中的空氣被鈷-60衰變釋出的加馬射線游離所產生之電荷，再根據Ｗ值(33.97 eV/ion pair)將電量轉換為能量，並對量測過程中的環境或射束衰減等干擾進行適當的修正，決定出校正場參考點的空氣克馬率。

(2) 銫-137加馬射線空氣克馬率校正系統

使用銫-137加馬射源與空氣游離腔建立空氣克馬率校正系統。其量測原理是依據空氣克馬定義，配合布拉格-戈雷空腔原理 (Bragg-Gray cavity theory)，測定游離腔空腔中的空氣被銫-137衰變釋出的加馬射線游離所產生之電荷，再根據Ｗ值(33.97 eV/ion)將電量轉換為能量，並對量測過程中的環境或射線衰減等干擾進行適當的修正，決定出校正場參考點的空氣克馬率。

鈷-60 加馬射線水吸收劑量率校正系統

(1) 游離腔量測法

使用鈷-60加馬射源、空氣游離腔與水假體，建立水吸收劑量率校正系統。其量測原理是依據水吸收劑量定義，配合布拉格-戈雷空腔原理 (Bragg-Gray cavity theory)，測定游離腔空腔中，不帶電荷之輻射與空氣作用，於單位質量產生的游離電荷，根據Ｗ值(33.97 eV/ion)將電量轉換為能量，並考慮干擾與環境修正，透過空氣和水的轉換因子，標定出校正場參考點(水面下5 cm)的水吸收劑量率。

(2) 熱卡計量測法

使用石墨卡計，利用輻射造成溫度變化評估吸收劑量，透過石墨和水的轉換因子與干擾修正，決定校正場參考點的水吸收劑量率絕對值。

(1) 中能量X射線空氣克馬率校正系統

使用中能量鎢靶X光機產生X射線，經過X光過濾片調整成適合的X射線能譜，其量測原理是依據空氣克馬定義，利用電子平衡狀況下，測定中能量自由空氣游離腔中定義體積內的空氣被X射線游離所產生之電荷，再根據Ｗ值(33.97 eV/ion)將電荷量轉換為能量，並對量測過程中的環境或射線衰減等進行適當的修正，決定出校正場參考點的空氣克馬率。 

(2) 低能量X射線空氣克馬率校正系統

使用鎢靶、鉬靶、銠靶X光機產生X射線，經過X光過濾片調整成適合的X射線能譜，其量測原理是依據空氣克馬定義，利用電子平衡狀況下，測定中能量自由空氣游離腔空腔中的空氣被X射線游離所產生之電荷，再根據Ｗ值(33.97 eV/ion)將電荷量轉換為能量，並對量測過程中的環境、射線衰減、電子能量損失等進行適當的修正，決定出校正場參考點的空氣克馬率。

標準建置係將X光機高壓產生器透過高壓分壓儀，將管電壓分壓至原本電壓的千分之一以下，再使用精密電表量測其分壓後的電壓值，即可得X光機的管電壓值。校正時將待校件置於游離腔架上，以X光機進行照射，比較待校件量測值與標準值的差異，即可得校正因子。

使用醫用高強度銥-192射源，配合準直儀、球形石墨空氣游離腔等設施，依據參考空氣克馬之定義，與布拉格-戈雷空腔原理 (Bragg-Gray cavity theory)，測定球形石墨空氣游離腔中的空氣，被銥-192射出的加馬射線游離所產生之電荷，再根據Ｗ值(33.97 eV/ion pair)將電量轉換為能量，並對量測過程中的環境、射線衰減、散射等干擾做適當的修正，決定出銥-192射源於1 m處的參考空氣克馬率。 

依據ISO 8529標準之建議，採用已知中子發射率的鉲-252中子射源、鋂/鈹中子射源、重水球，建置中子標準場。本實驗室鉲-252射源之中子發射率由美國NIST實驗室校正，鋂/鈹射源之中子發射率由英國NPL實驗室校正。中子標準場的中子周圍等效劑量則可根據ISO8529規範之建議由中子通量率計算得出，中子個人等效劑量率則參考HPS N13.11規範之建議由中子通量率計算得出。 

使用類組織外推式游離腔，並配合布拉格-戈雷空腔原理 (Bragg-Gray cavity theory) 與吸收片衰減實驗，直接求出組織內某一定深度的吸收劑量。貝他組織表面吸收劑量率輻射場之量測，主要以外推式游離腔為主，其藉由極板距離之改變，經外推法評估至兩極板間距為零時之空氣吸收劑量率，再利用組織和空氣阻擋本領之比值，求得在組織某一點之吸收劑量率。

加馬液體放射源活度校正系統，是利用放射核種同時放射出加馬(ᴦ)射線與貝它(ß)射線的特性，進行其放射活度之量測，經標準化之液體射源移入標準玻璃安瓶後，先對實驗室內之游離腔計測系統進行校正與調整，再由游離腔計測系統提供對外服務，或製成標準參考物質提供二級實驗室使用。

使用無窗充氣式比例計數器對放射源的阿伐(α)或貝它(β)粒子進行偵測，此偵測器對0.6 keV以上能量貝它粒子及阿伐粒子的偵測效率為100%，量測數據經系統特性相關參數修正後，可得出放射源表面阿伐或貝它粒子的發射率。